德國R&S頻譜與信號分析儀FSW
全新高性能R&S®FSW信號與頻譜分析儀滿足客戶高性能需求，提供低相位噪聲，寬分析帶寬和直觀性操作，使得測試工作快速簡單。
主要特點
? 頻率范圍覆蓋從2 Hz 至 8/13.6/26.5/43.5/50/67 GHz （加外部諧波混頻器可擴展至110GHz）
? 相位噪聲低至-137dBc/Hz@1GHz,10kHz頻偏
? WCDMA 鄰信道功率比測試-88dB動態(tài)范圍(噪聲消除功能打開)
? *高2GHz分析帶寬
? 8 GHz范圍內(nèi)低至0.4dB總測量不確定度
? 高分辨率的12.1寸觸摸屏方便操作
? 支持多任務并行測量及顯示
型號
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型號
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訂貨號
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R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到8GHz
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1312.8000K08
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R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到13.6GHz
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1312.8000K13
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R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到26.5GHz
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1312.8000K26
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R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到43.5GHz
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1312.8000K43
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R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到50GHz
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1312.8000K50
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R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到67GHz
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1312.8000K67
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特點
射頻性能滿足苛刻需求
? ****的相位噪聲 – 是雷達和通信應用振蕩器測試的理想工具
振蕩器，頻率合成器和發(fā)射機系統(tǒng)的研發(fā)人員將從R&S®FSW突出的相位噪聲測量動態(tài)范圍性能中獲益。在偏離載波中心頻率10kHz位置，R&S®FSW相位噪聲在1GHz中心頻率處可達到-137dBc（1Hz），而在10GHz中心頻率處可達到-128dBc（1Hz）。偏離載波中心頻率100kHz位置，相位噪聲在相同中心頻率處分別為-110dBc（1Hz）和-90dBc（1Hz）. 在相位噪聲性能上R&S®FSW超越前一代分析儀多達10dB。
相位噪聲在1GHz中心頻率，10kHz偏離處為 -137dBc（1Hz）
? 低顯示平均噪聲電平帶來出色的雜散測試動態(tài)范圍
顯示平均噪聲電平（DANL）在未使用預放大器條件下，2GHz頻率處低至-159dBm（1Hz）而25GHz頻率處低至-150dBm（1Hz）。R&S®FSW可在寬頻率范圍內(nèi)提供快速而可靠的雜散測試。顯示平均噪聲電平可通過選擇使用噪聲消除功能而進一步改善13dB。用戶可確認之前隱藏在噪底之下的極小雜散信號從而有效地優(yōu)化發(fā)射機系統(tǒng)。
? 內(nèi)置高通濾波器簡化諧波測試
R&S®FSW可選配可切換使用的高通濾波器（R&S®FSW-B13）進行*高頻率至1.5GHz的發(fā)射機系統(tǒng)諧波測試。與傳統(tǒng)的頻譜分析儀相比可獲得明顯的動態(tài)范圍改善。無需外部濾波器，可方便針對GSM, CDMA, WCDMA, LTE 和TETRA 系統(tǒng)進行測試系統(tǒng)的搭建。
? 低頻段內(nèi)提供高選擇性
? 高**度
? 單獨的接收機通路使得在*高1GHz頻率范圍內(nèi)獲得不可比擬的動態(tài)范圍
面向未來
? 高達500MHz解調(diào)帶寬
多載波或者寬帶應用的功率放大器為了提高效率而進行的線性化工作或者通信系統(tǒng)自身占用帶寬的增加，使得對于分析帶寬的需求持續(xù)增加，面對挑戰(zhàn)，R&S®FSW提供高達500MHz的分析帶寬滿足測試需求。
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配置
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*大分析帶寬
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應用
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標準配置
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10 MHz
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? 單載波標準應用與測量，比如WCDMA, cdma2000®, TD-SCDMA,TETRA
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R&S®FSW-B28
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28 MHz
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? 調(diào)制測量 WiMAX?, LTE, WLAN 802.11a/b/g 信號
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R&S®FSW-B40
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40 MHz
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? 調(diào)制測量 802.11n 信號
? 放大器特征化與線性化
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R&S®FSW-B80
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80 MHz
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? 放大器特征化與線性化
? 寬帶脈沖測量
? 調(diào)制測量802.11ac 信號
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R&S®FSW-B160
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160 MHz
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? 放大器特征化與線性化
? 寬帶脈沖測量
? 調(diào)制測量802.11ac 信號
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R&S®FSW-B320
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320 MHz
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? 放大器特征化與線性化
? 寬帶脈沖測量
? 調(diào)制測量802.11ac 信號
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R&S®FSW-B500
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500 MHz
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? 放大器特征化與線性化
? 寬帶脈沖測量
? 調(diào)制測量802.11ac 信號
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? 高無雜散動態(tài)范圍 > 100 dBc
當分析I/Q數(shù)據(jù)時，除ADC分辨率之外，無雜散動態(tài)范圍（SFDR）也是重要指標。由于無雜散動態(tài)范圍（SFDR）> 100 dBc，因此R&S®FSW在線性化放大器或測量EVM時擁有**的測量精度。
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分析帶寬
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SFDR
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10MHz
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100dBc
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80MHz
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80dBc
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160MHz
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70dBc
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? 大IQ信號存儲深度無縫記錄長信號序列
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分析帶寬
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采樣速率
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*大記錄時間
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10MHz
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12.5 Msample/s
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36.9s
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20MHz
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25 Msample/s
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18.4s
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40MHz
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50 Msample/s
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9.2s
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80MHz
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100 Msample/s
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4.6s
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160MHz
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200 Msample/s
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2.3s
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320MHz
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400 Msample/s
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0.49s
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500MHz
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600 Msample/s
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0.76s
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設計便捷 – 直觀顯示結(jié)果
? 優(yōu)化用戶向?qū)нM行有效操作
° 平面化的菜單架構(gòu)
° 透明窗口
° 工具欄
° 縮放功能
° 自適應窗口規(guī)劃
? 多視窗：多個測試結(jié)果可同時顯示
多視窗功能
分析雷達系統(tǒng)的理想工具
? 快速識別和分析發(fā)射雜散信號
為了識別發(fā)射機或振蕩器的雜散發(fā)射，通常需要在窄分析帶寬下做寬帶測量。R&S®FSW提供極短的掃描時間，即使在1kHz分辨率帶寬，8GHz掃描頻率范圍和電平小于-100dBm條件下，R&S®FSW也能夠在10秒內(nèi)給出測試結(jié)果。使用縮放功能或者多視窗功能，用戶可以在檢查發(fā)射雜散細節(jié)的同時保持對整體頻譜的觀測。
? 低相位噪聲適合振蕩器測試
為了達到高分辨率，雷達系統(tǒng)通常配備高穩(wěn)晶振，他們能夠**地確認物體的運動速度。射頻指標優(yōu)異，R&S®FSW是測量振蕩器的理想選擇。
? 一鍵完成脈沖參數(shù)測量
特征化雷達系統(tǒng)需要測量大量的脈沖參數(shù)。R&S®FSW-K6選件測量– 一次按鍵 –測試所有相關參數(shù)，如脈沖寬度，脈沖周期和脈沖上升/下降時間，脈沖內(nèi)的功率平穩(wěn)度，脈內(nèi)相位調(diào)制以及眾多脈沖的趨勢分析。用戶選擇的結(jié)果可同時在屏幕顯示。R&S®FSW可以在幾秒鐘內(nèi)給出雷達系統(tǒng)的測試全景圖。
配置R&S®FSW-K6脈沖測量選件，一鍵測量脈沖重要參數(shù)
? 分析極短的脈沖上升和下降時間
分析極短的脈沖需要大的動態(tài)范圍和大的分析帶寬，R&S®FSW皆而有之。
分辨信號間的相互影響
? 多標準無線分析儀
R&S®FSW提供新多標準無線分析儀功能，此功能在FSW的160MHz分析帶寬內(nèi)可以同時測量處于不同頻率點的不同標準信號（比如GSM, WCDMA, LTE信號）
多標準無線分析儀：一次抓取信號，同時在不同頻率點分析不同標準信號
快速測量
? 高測量速率和快速掃描時間高達1000次掃描/秒。
? 儀表設置間的快速切換
? 有效的測量功能加速操作過程
° 頻率列表模式：使用單個遠程控制命令可以觸發(fā)300個頻點的不同頻譜儀設置進行快速測量
° 一次掃描在時域完成不同功率電平的測量（多結(jié)果marker）
° 0.1Hz分辨率條件下，頻率計數(shù)器< 50ms
° 在時域使用信道濾波器或在頻域使用FFT掃描完成快速鄰道功率測試
? 內(nèi)置支持R&S®NRP-Zxx功率探頭
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R&S®FSW測量速度
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本機測量和顯示更新
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1001 掃描點
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1.25 ms (800/s) (測量值)
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程控測量, 1000次掃描平均
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1001 掃描點
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1.0 ms (1000/s) (測量值)
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通過網(wǎng)絡接口程控測量包括數(shù)據(jù)傳遞
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5 ms (200/s) (測量值)
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Marker 峰值搜索
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1.7 ms (測量值)
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設置中心頻率包括數(shù)據(jù)傳遞
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f ≤ 8 GHz
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15 ms (測量值)
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f > 8 GHz
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65 ms (測量值)
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**投資
? 與科技發(fā)展保持同步
? R&S®Legacy Pro – 輕松替代淘汰分析儀
R&S®FSW支持其它Rohde & Schwarz信號與頻譜分析儀，比如R&S®FSU和R&S®FSQ，同時也支持其它廠家的儀表(R&S®Legacy Pro) 的遠程控制命令集。使用R&S®FSW替代淘汰分析儀毫無問題。大多數(shù)情況下在測試過程中充分了驗證R&S®FSW的命令反饋。眾多成功使用R&S®FSV或者R&S®FSU替代淘汰分析儀案例已經(jīng)證明這一方法的有效性。
? 保護測試機密數(shù)據(jù)
保護測試機密數(shù)據(jù)，用戶可以使用獨立的固態(tài)硬盤（R&S®FSW-B18 選件）更換R&S®FSW的內(nèi)置固態(tài)硬盤，避免儀表在外送校驗過程中任何機密數(shù)據(jù)離開實驗室。分析儀自身的校準數(shù)據(jù)與用戶數(shù)據(jù)分別獨立存儲。
